六种粘接剂的牙本质粘接界面纳米渗漏比较

2006年07月27日 中华口腔医学杂志 2005 Vol.40 No.6 P.500-503 7 （西安）为了检测6种粘接剂粘接处理后牙本质粘接界面的纳米渗漏情况。研究者选取12颗无龋人磨牙，用600目碳化硅砂纸在流水冲洗下预备出统一的牙本质粘接面玷污层。分别用6种粘接剂按使用说明进行粘接处理，切割成0.9 mm厚试件，避光贮存于氨化硝酸银溶液中24 h。透射电子显微镜下观察牙本质粘接界面的纳米渗漏情况，单因素方差分析比较各组银染颗粒分布面积比的均值。结果 6种粘接剂的牙本质粘接界面在电子显微镜下均观察到明显的纳米渗漏，其中材料A[邦多，(16.09±2.08)%]、材料B[Single Bond，(13.39±1.81)%]和材料C[Prime&Bond NT，(11.27±1.94)%]之间的差异均有统计学意义(P<0.05)；材料D[B1自酸蚀底涂剂，(12.13±2.11)%]与材料E[ClearfilTM SE Bond，(12.35±2.60)%]的差异无统计学意义，但两者的纳米渗漏均小于材料F[AdperTMPromptTM，(14.93±2.67)%]，差异有统计学意义(P<0.05)。可见6种牙科粘接剂的牙本质粘接界面均存在不同程度的纳米渗漏。