糖调节受损与颅内外动脉闭塞性病变的相关性

2007年06月04日 中华神经科杂志 2007 Vol.40 No.2 P.105-108 医学空间（MEDcyber.com）6月4日消息，经OGTT发现，IGR在缺血性卒中患者中普遍存在，尤其伴有颅内外动脉闭塞性病变者更为常见。而OGTT 2 h血糖是IGR患者导致颅内外动脉闭塞性病变的独立危险因素。

糖调节受损是糖尿病重要的前期阶段，可能发展为糖尿病并形成大血管病变，也可能逆转为正常葡萄糖状态。

中华神经科杂志二月第二期刊登一项研究，以非糖尿病且空腹血糖水平(FPG)＜7.0 mmol/L的缺血性卒中患者为研究对象(病程3周至半年)。依据经颅多普勒超声和头颅磁共振血管成像结果，将被研究者分为狭窄组(大血管病变组)与非狭窄组(小血管病变组)；依据口服葡萄糖耐量试验(OGTT)，5.6 mmol/L≤FPG＜7.0 mmol/L和(或)7.8 mmol/L≤OGTT 2 h血糖＜11.1 mmol/L者诊断为IGR，OGTT 2 h血糖≥11.1mmol/L者诊断为糖尿病。观察非糖尿病缺血性卒中患者糖调节受损(IGR)的发病率，并研究IGR与颅内外动脉粥样硬化性狭窄或闭塞(简称颅内外动脉闭塞性病变)的相关性。

河北医科大学第三医院神经科刘俊艳等研究人员研究显示，(1)160例缺血性卒中患者中IGR及糖尿病的患病率分别为35.6%(57/160)和21.8%(35/160)；其中狭窄组为40.9%(45/110)和26.3%(29/110)，非狭窄组为24.0%(12/50)和12.0%(6/50)，两组比较前者明显高于后者(P=0.038，0.042)；(2)Logistic回归分析显示OGTT 2 h血糖、低高密度脂蛋白胆固醇及缺血性卒中家族史为颅内外动脉闭塞性病变的独立危险因素(OR=1.362、0.149、7.518，P=0.019、0.003、0.002)。

因此可见经OGTT发现，IGR在缺血性卒中患者中普遍存在，尤其伴有颅内外动脉闭塞性病变者更为常见.而OGTT 2 h血糖是IGR患者导致颅内外动脉闭塞性病变的独立危险因素。