据bio.com网站2006年1月17日报道：美国犹他大学的医学博士透过基因芯片发现，一染色体区域可能带有“自闭症”基因。这种基因的存在很有可能是导致自闭症的主要原因。这项研究的主要对象为美国犹他州的一个高自闭症罹患率家族。
研究针对家族的31位成员进行，他们的祖先来自于北欧。其中有7人患有自闭症或是相类似的疾病。研究人员通过类似于微数组的基因芯片寻找自闭症基因标志。这块基因芯片上含有已知的“单核苷多态性”（SNPs），研究人员借此对受测者DNA上所具有的不同“单核苷多态性”变异情况进行了比较。
这项研究也排除了先前所认为与自闭症有关的基因的可能性；目前，医学家正在寻找其它与自闭症有关的基因。此外，这项研究也同时证实了先前芬兰医学家的研究发现，即自闭症与第3条染色体有关。
研究人员对第3条染色体进行分析后发现，第一个分析的区域内含有106种“单核苷多态性”，其中70种显示此区域的基因与自闭症密切相关，如FXR1；其与FMR1基因相似。FMR1基因变异会导致“脆性X染色体综合症”，进而引发心智障碍，而“脆性X染色体综合症”与自闭症有所重叠，但进一步的研究发现FXR1与自闭症并无关联。目前，研究人员仍在持续分析第3条染色体上的其它区域。
英文原文链接参见：
http://www.bio.com/newsfeatures/newsfeatures_research.jhtml?cid=16000048
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