父亲职业性暴露于射频电磁场与不良妊娠结局有关吗？

2006年12月07日 Eur J Epidemiol. 2006 Jul 21; [Epub ahead of print] 43 在过去的几十年间，公众已经认识到射频辐射（RFR）可能与不良生殖结局有关。在最近的研究中，挪威卑尔根大学的Mjoen G及其同事利用该国以人群为基础的资料评估了父亲职业性暴露于RFR与包括出生缺陷在内的不良妊娠结局之间的相关性。科研人员将从挪威医疗出生登记处获得的生殖结局资料与从一般人口普查中获得的父方职业资料进行关联研究。由专家组根据暴露情况将职业分类。通过逻辑回归分析24类出生缺陷以及其他不良结局。结果显示，在父亲暴露可能性最高的子女中，早产危险增高（优势比[OR]：1.08，95%可信区间[CI]：1.03-1.15）。在该组中，研究人员还观察到唇裂危险降低（OR：0.63；95% CI：0.41-0.97）。在中度暴露组中，他们观察到“其他缺陷”类别危险增高（OR：2.40，95% CI：1.22-4.70），而“其他综合征”类别（OR：0.75，95% CI：0.56-0.99）和上消化道缺陷（OR：0.61，95% CI：0.40-0.93）危险降低。Mjoen等总结指出，该研究至少可让那些处于职业性暴露的父亲感到放心一些。